產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER
當(dāng)前位置：首頁
產(chǎn)品中心光譜系統(tǒng)
產(chǎn)品分類
相關(guān)文章
●可測量稀薄溶液~濃厚溶液的ZETA電位和粒徑，并可進(jìn)行分子量測量的檢測裝置。 ●適用于粒徑測量范圍（0.6nm~10um）,濃度范圍（0.00001%~40%）。
更新時(shí)間：2025-04-23
產(chǎn)品型號：
瀏覽量：366
利用顯微微分光膜厚計(jì)OPTM series的高精度、微小光點(diǎn)，在線提供制作晶片圖案后的微小區(qū)域測量等膜厚信息。
更新時(shí)間：2025-04-23產(chǎn)品型號：瀏覽量：335
●Φ支持到300mmEFM單元備用端口的集成 ●實(shí)現(xiàn)嵌入在晶片中的布線圖案的圖案對齊 ●支持半導(dǎo)體工藝的高吞吐量要求 ●支持槽口對齊功能 ●小尺寸規(guī)格 ●高精度自動(dòng)校準(zhǔn)單元
更新時(shí)間：2025-04-23產(chǎn)品型號：瀏覽量：384
半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測儀利用亮場和暗場顯微成像技術(shù)，通過自動(dòng)化的圖像捕捉以及人工智能分析工具，為晶圓表面缺陷的檢測提供了快速且高效的解決方案。
更新時(shí)間：2025-04-23產(chǎn)品型號：瀏覽量：7086
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng)可測量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。
更新時(shí)間：2025-04-23產(chǎn)品型號：ELSZ-2000系列瀏覽量：5931
光電流測試是一種用于測量器件或材料的光電性能的測試方法，主要應(yīng)用于半導(dǎo)體器件、光電器件、太陽能電池等領(lǐng)域。
更新時(shí)間：2025-04-23產(chǎn)品型號：S-LBIC瀏覽量：1688公司郵箱： qgao@buybm.com
服務(wù)熱線： 021-61052039
公司地址： 上海市浦東新區(qū)疊橋路456弄?jiǎng)?chuàng)研智造C7區(qū)301室
Copyright © 2025 上海波銘科學(xué)儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號：滬ICP備19020138號-2
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
關(guān)于我們
公司簡介 企業(yè)文化 榮譽(yù)資質(zhì) 聯(lián)系我們快速通道
產(chǎn)品中心 新聞中心 技術(shù)文章 在線留言推薦產(chǎn)品
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng) RU120便攜式拉曼光譜儀
