產(chǎn)品中心
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產(chǎn)品中心光譜系統(tǒng)顯微缺陷膜厚嵌入式膜厚檢測(cè)儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
● 采用分光干涉法● 搭載高精度FFT膜厚解析系統(tǒng)（專zhuan利 第4834847號(hào)）● 使用光學(xué)光纖，可靈活構(gòu)筑測(cè)量系統(tǒng)● 可嵌入至各種制造設(shè)備。● 實(shí)時(shí)測(cè)量膜厚● 可對(duì)應(yīng)遠(yuǎn)程操作、多點(diǎn)測(cè)量● 采用壽命長(zhǎng)、安全性高的白色LED光源
產(chǎn)品分類(lèi)
多層膜厚解析
光學(xué)薄膜（超硬涂層、AR薄膜、ITO等）
FPD相關(guān)（光刻膠、SOI、SiO2等）
半導(dǎo)體晶圓的面內(nèi)分布測(cè)量
玻璃基板的面內(nèi)分布測(cè)量
實(shí)時(shí)測(cè)量
流向品質(zhì)管理
真空室適用
實(shí)時(shí)測(cè)量
寬度方向品質(zhì)管理
上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學(xué)機(jī)械和光學(xué)平臺(tái)、激光器、Edmund 光學(xué)元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測(cè)器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學(xué)測(cè)試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級(jí)相機(jī)、Semilab 半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備及高低溫探針臺(tái)系統(tǒng)。經(jīng)過(guò)多年的發(fā)展，上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場(chǎng)上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽(yù)度，客戶遍布全國(guó)。我們將繼續(xù)努力，不斷提升市場(chǎng)地位和影響力。
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