深能級(jí)瞬態(tài)譜測試儀

產(chǎn)品簡介
深能級(jí)瞬態(tài)譜儀(DLTS)是檢測半導(dǎo)體材料和器件缺陷和雜質(zhì)的最好技術(shù)手段，它可以測定各種深能級(jí)相關(guān)參數(shù)，如深能級(jí)，俘獲界面，濃度分布等。

產(chǎn)品型號(hào)：

更新時(shí)間：2025-04-23

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

半導(dǎo)體材料測試

體微缺陷測試霍爾電阻遷移率光伏光致發(fā)光深能級(jí)瞬態(tài)譜測試橢偏拉曼AFM 半導(dǎo)體多功能測試 CV測試系統(tǒng)集成測試儀器租賃

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Capability:

High sensitivity 高靈敏度
C-V characterization 深能級(jí)C-V測試
Capture cross section measurement 俘獲界面測試
Optical injection 光注入
Conductance transient measurements 瞬態(tài)電導(dǎo)測試
Sample quality test by I-V, C-V I-V/C-V 基礎(chǔ)測試
Cryostats LN2,低溫致冷

深能級(jí)瞬態(tài)譜測試儀

上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學(xué)機(jī)械和光學(xué)平臺(tái)、激光器、Edmund 光學(xué)元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學(xué)測試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級(jí)相機(jī)、Semilab 半導(dǎo)體測試設(shè)備及高低溫探針臺(tái)系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展，上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽(yù)度，客戶遍布全國。我們將繼續(xù)努力，不斷提升市場地位和影響力。

上一個(gè)：納米壓痕測試設(shè)備